LCR/Empedans ve RPS/RUS Analizleri
Bu bölüm, Analiz çalışma alanında yer alan iki gelişmiş modül ailesini kapsar: kapasitans–gerilim ve empedans temelli LCR/Empedans ailesi ile rezonant piezoelektrik/ultrason temelli RPS/RUS ailesi. Her iki aile de yüklediğiniz ölçüm dosyalarından yarı-iletken, ince-film, fotovoltaik ve elastik cihaz parametrelerini eksiksiz, belirsizlik-bütçeli ve yeniden üretilebilir biçimde çıkarır.
- LCR / Empedans ailesi (A1–A8): Kapasitans–gerilim (C–V), kapasitans–frekans (C–f), empedans spektroskopisi (Z–f) ve sıcaklık-çözümlü admitans (TAS) verilerinden yarı-iletken/ince-film/fotovoltaik cihaz parametreleri (taşıyıcı yoğunluğu, yerleşik gerilim, tuzak enerjileri, arayüz tuzak yoğunluğu, rekombinasyon yaşam süresi) çıkarır.
- RPS / RUS ailesi (29–35): Rezonant piezoelektrik spektroskopi (RPS) ve rezonant ultrason spektroskopisi (RUS) verilerinden rezonans frekansı, kalite faktörü, akustik sönüm, göreli piezoelektrik yanıt, doğrusalsızlık oranı, göreli elastik modül ve tam elastik tensör (Cij) çıkarır.
Her iki aile de uygulamanın Qt'siz çekirdek motorlarında (app/analysis_kit/engines/lcr ve .../rps) hesaplanır; sayılar tek kaynaktan üretilir ve görsel katman asla yeniden hesaplama yapmaz. Belirsizlikler GUM (JCGM 100:2008) çerçevesinde fit kovaryansından yayılır.
bias_v, cp_f, freq_hz, z_re_ohm, harmonic, r_v, t_set_k) taşıdığı sürece elle sütun eşlemesi yapmadan doğrudan hesaplanır.
Bu bölüm, laboratuvarda kaydettiğiniz ham ölçüm dosyalarını (CSV) alıp onlardan malzeme ve cihaz hakkında anlamlı sayılar çıkaran iki analiz ailesini anlatır. Bir doktorun röntgen filmine bakıp "kemik şu kadar yoğun" demesi gibi, yazılım da eğrilerinize bakıp taşıyıcı yoğunluğu, tuzak enerjisi veya elastik modül gibi fiziksel büyüklükleri okur.
- Neden yapılır: Ham eğriler (kapasitans, empedans, rezonans tepeleri) tek başına yorumlanamaz; analiz bunları karşılaştırılabilir fiziksel parametrelere çevirir.
- Ne öğretir / ne ölçer: Her modül belirli bir büyüklük üretir (örn. taşıyıcı yoğunluğu, yaşam süresi, elastik sabitler) ve yanında belirsizliğini (± hata) verir.
- Nerede kullanılır: Yarı-iletken/güneş hücresi araştırması, ince-film kalite kontrolü, malzeme karakterizasyonu ve arıza analizi.
Ortak Kavramlar
Veri sütunları ve birim notasyonu
LCR/RPS örnek dosyaları CSV başlıklarında birimi köşeli parantez içinde taşır; yükleyici sondaki [birim] ekini ayıklayıp sütunu ada göre bağlar. Tipik başlıklar:
| Mod | CSV sütun başlığı (örnek) | Açıklama |
|---|---|---|
| C–V | bias_v [V], cp_f [F], rp_ohm [ohm], g_s [S], z_re_ohm [ohm], z_im_ohm [ohm] | Sabit frekans, süprülen DC bias |
| C–f | freq_hz [Hz], cp_f [F], g_s [S], rp_ohm [ohm], z_re_ohm [ohm], z_im_ohm [ohm] | Sabit bias, log-süprülen frekans |
| Z–f | freq_hz [Hz], z_re_ohm [ohm], z_im_ohm [ohm], z_mag_ohm [ohm], z_phase_deg [deg], bias_v [V] | Empedans spektroskopisi |
| TAS | temperature_k [K], freq_hz [Hz], cp_f [F], g_s [S] | Her sıcaklıkta bir C–f taraması yığınlanır |
| RPS | harmonic, freq_hz [Hz], x_v [V], y_v [V], r_v [V], t_set_k [K] | Lock-in harmonik/faz çıktı |
area_cm2, temperature_k, eps_r gibi değerler ya dosya içindeki ilgili sütundan ya da modül parametre panelinden verilmelidir. Örnek dosyalar bu değerleri parametre ön-tanımları ile eşler.Fiziksel sabitler (CODATA 2019, SI)
| Sabit | Sembol | Değer |
|---|---|---|
| Temel yük | q | 1.602176634 × 10⁻¹⁹ C |
| Boltzmann sabiti | kB | 1.380649 × 10⁻²³ J/K |
| Boltzmann (eV) | kB | 8.617333262 × 10⁻⁵ eV/K |
| Vakum geçirgenliği | ε₀ | 8.8541878128 × 10⁻¹² F/m |
Belirsizlik ve uyum metrikleri
- Tüm standart belirsizlikler k = 1 (geniş belirsizlik ayrıca raporlanmaz; proje konvansiyonu).
- Doğrusal fitlerde belirsizlik
numpy.polyfitkovaryans matrisinden; doğrusal-olmayan fitlerde (scipy.optimize.least_squares) Jacobian'dan a-posteriori s² ölçeklemesiyle hesaplanır. r2(determinasyon katsayısı) her fit için raporlanır; her modül ayrıca biranalysis_resolvedbayrağı döndürür (çözülemediğindeFalse).
analysis_resolved = False) ve uyarı notu döndürür; çıkış çökmesi olmaz.LCR / Empedans Ailesi (A1–A8)
LCR ve empedans ölçümleri, cihaza küçük salınımlı (AC) bir sinyal uygulayıp kapasitans ve direnç tepkisini ölçer. Bir duvara vurup yankısından arkasında boşluk olup olmadığını anlamak gibi, farklı frekans ve gerilimlerdeki elektriksel yanıttan eklem bölgesinin, kusurların ve taşıyıcıların durumu okunur.
- Neden yapılır: Cihazı bozmadan (tahribatsız) içindeki katkı yoğunluğu, tükenim bölgesi ve kusur/tuzak seviyelerini anlamak için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Taşıyıcı yoğunluğu, yerleşik gerilim, tuzak enerjileri, arayüz tuzak yoğunluğu ve taşıyıcı yaşam süresi.
- Nerede kullanılır: Güneş hücresi ve diyot geliştirme, MOS arayüz kalite kontrolü, malzeme tuzak/kusur tanılaması.
LCR modüller ailesi, farklı yarı-iletken/PV cihaz tipleri için yer-gerçeği (ground-truth) preset'lerinden üretilmiş sentetik örneklerle doğrulanmıştır. Aşağıdaki preset tablosu örnek dosyaların fiziksel temelini özetler:
| Preset | Tip | A (cm²) | Neff (cm⁻³) | Vbi (V) | εr | Rs (Ω) | Rrec (Ω) | Cμ (F) | Tuzaklar (E [eV], ΔC [F]) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
c_si | c-Si | 0.09 | 1×10¹⁶ | 0.70 | 11.7 | 5 | 5×10³ | 2×10⁻⁹ | (0.15, 0.3 nF) |
cigs | CIGS | 0.09 | 5×10¹⁵ | 0.80 | 13.6 | 15 | 1×10⁴ | 3×10⁻⁹ | (0.10, 0.8 nF), (0.28, 0.5 nF) |
perovskite | Perovskit | 0.09 | 1×10¹⁷ | 1.00 | 24.0 | 20 | 8×10³ | 5×10⁻⁸ | (0.35, 2 nF), (0.55, 1.5 nF) |
iii_v | III-V | 0.09 | 1×10¹⁸ | 1.20 | 12.9 | 8 | 2×10⁴ | 1×10⁻⁹ | — |
opv | OPV | 0.09 | 1×10¹⁶ | 0.60 | 3.5 | 50 | 1.5×10⁴ | 8×10⁻⁹ | (0.20, 0.4 nF) |
Tuzak karakteristik (çıkış) frekansı tüm LCR modüller boyunca tutarlı bir ön-çarpan biçimiyle hesaplanır:
Burada ν₀ deneme frekansıdır (ön-tanım 1×10¹² s⁻¹K⁻²). Bu ilişki hem örnek üretiminde hem TAS Arrhenius çıkarımında kullanılır.
A1 — Mott–Schottky (C–V) · lcr_mott_schottky
Bu modül, gerilimi değiştirdikçe cihazın kapasitansının nasıl değiştiğine bakarak yarı-iletkenin ne kadar "katkılandığını" (taşıyıcı yoğunluğu) ve eklemin yerleşik gerilimini söyler. Bir kondansatörün plakalarını birbirinden uzaklaştırdıkça kapasitansın düşmesi gibi, gerilim tükenim bölgesini genişletir ve bu değişimin eğimi bize yoğunluğu verir.
- Neden yapılır: "Bu malzemede birim hacimde kaç serbest taşıyıcı var?" sorusunu yanıtlar.
- Ne öğretir / ne ölçer: Etkin taşıyıcı yoğunluğu Neff, yerleşik gerilim Vbi ve 0 V'taki tükenim genişliği.
- Nerede kullanılır: Diyot/güneş hücresi katkı seviyesi doğrulaması ve süreç kontrolü.
Amaç: Tükenim bölgesi C–V verisinden taşıyıcı yoğunluğu Neff ve yerleşik gerilim Vbi çıkarır.
Fizik ve yöntem. Keskin (abrupt) eklemde tükenim kapasitansı Cdep = ε·A/W ile W = √(2ε(Vbi−V)/(qN)) olduğundan, 1/C² büyüklüğü bias'ta doğrusaldır:
Motor 1/C²–V eğrisine doğrusal fit (eğim m, kesişim b) uygular:
- Neff = −2 / (q · εr · ε₀ · A² · m) → [m⁻³] sonra ×10⁻⁶ ile [cm⁻³]
- Vbi = −b/m (x-kesişimi)
- Wd(0 V) = εr·ε₀·A / C(0 V) → [m] sonra ×10⁹ ile [nm]
Girdi sütunları: bias_v, cp_f. (En az 5 nokta, tüm C > 0, sonlu bias.)
Parametreler:
| Parametre | Birim | Açıklama | Varsayılan |
|---|---|---|---|
eps_r | — | Bağıl geçirgenlik εr | 11.7 |
area_cm2 | cm² | Cihaz alanı | 0.09 |
Çıktılar:
| Anahtar | Birim | Açıklama |
|---|---|---|
n_eff_cm3 | cm⁻³ | Etkin taşıyıcı yoğunluğu (eğimden) |
v_bi_v | V | Yerleşik gerilim (x-kesişimi) |
w_d_at_0v_nm | nm | 0 V'taki tükenim genişliği |
ms_slope | 1/(F²·V) | 1/C²–V eğimi (n-tipi tükenim için < 0) |
eps_r_used | — | Kullanılan εr |
r2 | — | Doğrusal fit uyumu |
Belirsizlik (GUM): u(N)/N = u(m)/|m|; u²(Vbi) = ub²/m² + b²·um²/m⁴ − 2·b·cov(m,b)/m³.
Örnek dosya: examples/analysis/21_lcr_mott_schottky.csv — c-Si keskin eklem, f = 10 kHz, bias −1.0…0.5 V (40 nokta). Beklenen: Neff ≈ 1×10¹⁶ cm⁻³ (±%2), Vbi ≈ 0.70 V (±20 mV), Wd(0 V) ≈ 301 nm, r² ≥ 0.98.

A2 — C–V Katkı Profili · lcr_cv_profiling
A1 tek bir ortalama yoğunluk verirken, A2 katkı yoğunluğunun cihazın içine doğru derinliğe göre nasıl değiştiğini çıkarır. Bir gölün dibini iskandil ipiyle nokta nokta ölçüp derinlik haritası çıkarmak gibi, her gerilim bir derinliğe karşılık gelir ve orada yerel yoğunluk hesaplanır.
- Neden yapılır: Katkının düzgün mü yoksa derinlikle değişken mi olduğunu görmek için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Derinlik-çözümlü N(W) profili, ortalama yoğunluk ve profilin kapsadığı derinlik aralığı.
- Nerede kullanılır: Katkı düzgünlüğü kalite kontrolü ve katmanlı yapı analizi.
Amaç: Diferansiyel C–V'den derinlik-çözümlü (uniform olmayan) katkı profili N(W) çıkarır.
Fizik ve yöntem. Diferansiyel profil yöntemi:
dC/dV türevi, önce Savitzky–Golay (poly = 2) yumuşatması sonra düzensiz-aralık destekli numpy.gradient ile alınır (yumuşatma penceresi smooth_window). Bias arttıkça W küçülür; tükenim geri çekildikçe W büyür. Yalnız sonlu, pozitif, |dC/dV| > 0 olan noktalar profile katılır.
Girdi sütunları: bias_v, cp_f.
Parametreler:
| Parametre | Birim | Açıklama | Varsayılan |
|---|---|---|---|
eps_r | — | Bağıl geçirgenlik | 11.7 |
area_cm2 | cm² | Cihaz alanı | 0.09 |
smooth_window | — | Savitzky–Golay penceresi (tek sayı) | 5 |
Çıktılar: n_mean_cm3 (cm⁻³, profil ortalaması), n_points_profile (geçerli nokta sayısı), w_min_nm, w_max_nm (nm; profilin derinlik aralığı). Belirsizlik: u(N̄) = s/√n (profil noktalarının ortalama-belirsizliği).
Örnek dosya: examples/analysis/22_lcr_cv_profiling.csv — c-Si uniform N(W) ≈ 1×10¹⁶ cm⁻³, bias −1.0…0.4 V (60 nokta), smooth_window = 5. Beklenen: N̄ profil düz ve ~1×10¹⁶ cm⁻³ (2×10¹⁵…5×10¹⁶ bandı), ≥ 3 geçerli profil noktası.

A3 — Empedans (Nyquist) Fiti · lcr_impedance_fit
Bu modül, frekansa karşı ölçülen empedansı bir eşdeğer elektrik devresine (dirençler + kapasitör) oturtur ve devre elemanlarının değerlerini bulur. Bilmediğiniz bir kutunun içindeki devreyi, ucuna sinyal verip yanıtından tahmin etmek gibi, eğrinin yarım-daire (Nyquist) şekli bize iç dirençleri ve kapasitansı söyler.
- Neden yapılır: Cihazdaki kayıp/rekombinasyon süreçlerini ayrı ayrı sayısallaştırmak için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Seri direnç Rs, rekombinasyon direnci Rrec, kimyasal kapasitans Cμ ve taşıyıcı yaşam süresi τn.
- Nerede kullanılır: Güneş hücresi/perovskit cihaz kayıp analizi ve model doğrulama.
Amaç: Z–f spektrumuna eşdeğer-devre (Randles tipi) kompleks NLLS fiti uygular; Rs, Rrec, Cμ ve taşıyıcı yaşam süresi τn çıkarır.
Fizik ve yöntem. Tek-yay (single-arc) Randles devresi:
Devre kompleks NLLS ile fit edilir (modulus ağırlığı 1/|Z|, least_squares TRF, alt sınır 0). Devre auto seçildiğinde cihaz tipinden belirlenir:
| Cihaz tipi | Varsayılan devre |
|---|---|
| c_si, iii_v, cigs | rs_rrec_cmu |
| perovskite | rs_rtr_cgeo_rrec_cmu |
| opv | rs_rrec_cpe |
Desteklenen devre modelleri:
| Devre kimliği | Model | Parametreler |
|---|---|---|
rs_rrec_cmu | Rs–(Rrec‖Cμ) | r_s, r_rec, c_mu |
rs_rrec_cpe | Rs–(Rrec‖CPE) | r_s, r_rec, cpe_q, cpe_n |
rs_rtr_cgeo_rrec_cmu | Rs–(Rtr‖Cgeo)–(Rrec‖Cμ) | r_s, r_tr, c_geo, r_rec, c_mu |
rs_rrec_cmu_warburg | Rs–(Rrec‖Cμ)–W | r_s, r_rec, c_mu, warburg_sigma |
Girdi sütunları: z_re_ohm, z_im_ohm, freq_hz (en az 5 nokta).
Parametreler:
| Parametre | Açıklama | Varsayılan |
|---|---|---|
circuit | Eşdeğer devre (auto / 4 model) | auto |
Çıktılar: r_s_ohm (Ω), r_rec_ohm (Ω), c_mu_f (F), tau_n_s (s), chi2, r2, circuit_used (kullanılan devre). Belirsizlik (GUM): u²(τ) = Cμ²·u²(Rrec) + Rrec²·u²(Cμ) + 2·Rrec·Cμ·cov(Rrec,Cμ).
Örnek dosya: examples/analysis/23_lcr_impedance_fit.csv — c-Si tek-yay, Rs = 5 Ω, Rrec = 5 kΩ, Cμ = 2 nF, 10 Hz–1 MHz (80 nokta). Beklenen: Rs ≈ 5 Ω (±%5), Rrec ≈ 5 kΩ (±%5), τn ≈ 10 µs (±%5), apeks f₀ ≈ 15.9 kHz, circuit_used = rs_rrec_cmu, r² > 0.95.
circuit_used skaleri, auto seçiminin hangi modele çözüldüğünü raporlar. Devreyi elle sabitlemek istemediğiniz sürece auto cihaz tipine göre en uygun modeli seçer.
A4 — C–f Tuzak Spektrumu · lcr_cf_traps
Malzemedeki kusurlar (tuzaklar) taşıyıcıları belirli bir hızda yakalayıp salar; bu hız bir karakteristik frekansa karşılık gelir. Frekansı süpürdükçe kapasitansta bir "basamak" görünür; modül bu basamağın tam frekansını bulur. Bir radyoda istasyonu yakalayana kadar frekans çevirmek gibi, tuzağın "ayar frekansını" tarayarak buluruz.
- Neden yapılır: Bir tuzağın varlığını ve onu karakterize eden emisyon frekansını saptamak için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Eşik emisyon frekansı f₀, kapasitans adım yüksekliği ΔC ve tespit edilen adım sayısı.
- Nerede kullanılır: Kusur tarama, malzeme saflığı ve süreç kaynaklı tuzak izleme.
Amaç: C–f spektrumundaki tuzak adımlarını (Debye gevşemesi) tespit ederek karakteristik (eşik) emisyon frekansı f₀'ı bulur.
Fizik ve yöntem. Tek Debye tuzağı için C(ω) = ΔC / (1 + (ω/ωi)²). Bu profilin −dC/d(ln ω) büyüklüğü ω = ωi'de tepe yapar:
Türev Savitzky–Golay yumuşatmalı alınır; tepe konumu parabolik tepe-rafinimiyle (alt-örnek hassasiyet) belirlenir. Adım sayısı scipy.signal.find_peaks ile (eşik = maks. tepenin %20'si) sayılır.
Girdi sütunları: freq_hz, cp_f (en az 6 nokta, tüm f > 0).
Parametreler: smooth_window (varsayılan 7).
Çıktılar: f0_hz (Hz, eşik emisyon frekansı), delta_c_f (F, kapasitans adım yüksekliği = maks − min), n_steps (tespit edilen adım sayısı).
Örnek dosya: examples/analysis/24_lcr_cf_traps.csv — c-Si tek tuzak E = 0.15 eV, T = 80 K, ν₀ = 1×10¹². Beklenen: f₀ ≈ 724 kHz (±%5), n_steps = 1, ΔC ≈ 0.3 nF. (2π·f₀, emisyon frekansı ωi = 2ν₀T²exp(−E/kT) ile %5 içinde örtüşür.)

A5 — Tuzak DOS + Urbach (tDOS) · lcr_tdos
A4 tek bir tuzak frekansını bulurken, A5 kapasitans–frekans verisini enerjiye karşı kusur yoğunluğu dağılımına çevirir; varsa bant kenarındaki "bulanıklığı" (Urbach enerjisi) de ölçer. Bir orkestrayı kaydedip hangi notada kaç enstrümanın çaldığını ayıklamak gibi, hangi enerjide ne kadar tuzak olduğunu gösterir.
- Neden yapılır: Kusurların tek bir enerjide mi yoksa bir dağılım halinde mi olduğunu anlamak için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Enerji-çözümlü tuzak yoğunluğu NT(E), pik enerjisi ve Urbach enerjisi EU (düzensizlik ölçüsü).
- Nerede kullanılır: İnce-film düzensizlik/kalite değerlendirmesi (örn. CIGS, perovskit).
Amaç: Walter tuzak-DOS yöntemiyle C(ω) verisini enerji-çözümlü tuzak yoğunluğu NT(E) dağılımına dönüştürür; bant-kuyruğu varsa Urbach enerjisi EU'yu çıkarır.
Fizik ve yöntem. Walter dönüşümü:
dC/dω yumuşatmalı türevle alınır. NT(E) içinde pik enerjisi Epeak ve pik yoğunluğu belirlenir. Pik enerjisinin altında kalan bant-kuyruğu bölgesinde ln NT ≈ −E/EU doğrusaldır; eğimden Urbach enerjisi EU = −1/eğim (meV) hesaplanır.
Girdi sütunları: freq_hz, cp_f (en az 6 nokta).
Parametreler:
| Parametre | Birim | Açıklama | Varsayılan |
|---|---|---|---|
nu0 | s⁻¹K⁻² | Deneme frekansı ν₀ | 1×10¹² |
v_bi_v | V | Yerleşik gerilim | 0.7 |
w_nm | nm | Tükenim genişliği W | 100 |
temperature_k | K | Ölçüm sıcaklığı (üretim T'siyle eşleşmeli) | 300 |
smooth_window | — | Yumuşatma penceresi | 7 |
Çıktılar: n_t_peak_cm3_ev (cm⁻³eV⁻¹, pik DOS), e_peak_ev (eV, pik enerjisi), e_u_mev (meV, Urbach enerjisi — yalnız temiz bant-kuyruğu çözülürse), r2 (Urbach fit uyumu). Belirsizlik: u(EU) = (um/m²)·1000.
Örnek dosya: examples/analysis/25_lcr_tdos.csv — CIGS, T = 55 K, Vbi = 0.8 V, W = 100 nm, ν₀ = 1×10¹², bant-kuyruğu EU = 20 meV + tuzaklar 0.10/0.28 eV (emisyon ~661 kHz). Beklenen: pik DOS > 0, 0 ≤ Epeak ≤ 0.65 eV, mevcutsa EU > 0.
temperature_k parametresi ölçümün yapıldığı sıcaklığa eşit olmalıdır; E(ω) dönüşümü sıcaklığa doğrudan bağlıdır. Yanlış sıcaklık girilirse enerji ekseni kayar. CSV metaverisi taşınmadığı için bu değeri elle doğrulayın.
A6 — Admitans Dit (İletkenlik Yöntemi) · lcr_admittance_dit
İki malzemenin birleştiği arayüzde (örn. oksit/yarı-iletken) takılı kalmış elektronik durumlar cihaz performansını bozar. Bu modül, iletkenliğin frekansla yaptığı tepeden bu arayüz kusurlarının yoğunluğunu sayar. İki tuğlanın arasındaki harç çatlaklarını saymak gibi, birleşme yüzeyinin ne kadar "temiz" olduğunu söyler.
- Neden yapılır: Arayüz kalitesini nicel olarak ölçmek ve süreç iyileştirmeyi izlemek için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Arayüz tuzak yoğunluğu Dit ve tuzak zaman sabiti τit.
- Nerede kullanılır: MOS/MIS yapılar, geçit oksiti ve pasivasyon kalite kontrolü.
Amaç: Nicollian–Brews iletkenlik yöntemiyle arayüz tuzak yoğunluğu Dit'i ve tuzak zaman sabiti τit'i çıkarır.
Fizik ve yöntem. Paralel iletkenlik büyüklüğü Gp/ω:
Bu büyüklük ω = 1/τit'te tepe yapar. Tepe değerinden:
Girdi sütunları: freq_hz, cp_f, g_s (en az 6 nokta).
Parametreler:
| Parametre | Birim | Açıklama | Varsayılan |
|---|---|---|---|
area_cm2 | cm² | Cihaz alanı | 0.09 |
cox_f | F | Oksit kapasitansı (0 → max Cp kullanılır) | 0.0 |
Çıktılar: d_it_cm2_ev (cm⁻²eV⁻¹), f_peak_hz (Hz, Gp/ω tepesi), tau_it_s (s).
Örnek dosya: examples/analysis/26_lcr_admittance_dit.csv — c-Si tek arayüz durumu (E = 0.15 eV trap, T = 80 K, emisyon ~724 kHz), A = 0.09 cm². Beklenen: Dit ∈ [1×10¹⁰, 1×10¹⁴] cm⁻²eV⁻¹, τit = 1/(2π·fpeak), fpeak tarama bandında.
cox_f parametresiyle verin; aksi halde tarama içindeki en büyük kapasitans Cox olarak alınır.
A7 — TAS Arrhenius · lcr_tas_arrhenius
Bir tuzağın emisyon hızı sıcaklığa çok güçlü bağlıdır. Bu modül, farklı sıcaklıklarda ölçülen karakteristik frekansları birleştirip tuzağın aktivasyon enerjisini (parmak izi) çıkarır. Buzun farklı sıcaklıklarda ne kadar hızlı eridiğine bakıp "erime enerjisini" hesaplamak gibi, sıcaklık kaldıracı tuzağın enerjisini ortaya koyar.
- Neden yapılır: Bir tuzağı enerjisiyle kimliklendirmek ve literatürle karşılaştırmak için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Tuzak aktivasyon enerjisi EA ve deneme frekansı ν₀.
- Nerede kullanılır: Derin-seviye kusur kimliklendirme ve malzeme güvenilirlik çalışmaları.
Amaç: Sıcaklık-çözümlü admitans (TAS) yığınından tuzak aktivasyon enerjisi EA ve deneme frekansı ν₀'ı Arrhenius analizi ile çıkarır.
Fizik ve yöntem. Her sıcaklıkta C–f eğilme (inflection) frekansı ω₀(T), −dC/d(ln ω) tepesinden bulunur. Ardından Arrhenius doğrusu fit edilir:
ln(ω₀/T²) ile 1/T arasında doğrusal fit: eğim = −EA/kB → EA (eV); kesişim → ν₀ = exp(b)/2.
Girdi sütunları: temperature_k, freq_hz, cp_f (yığın; en az 12 satır, her sıcaklıkta ≥ 5 frekans noktası). En az 4 çözülebilir sıcaklık gerekir.
Parametreler: smooth_window (varsayılan 7).
Çıktılar: e_a_ev (eV), nu0_s_k2 (s⁻¹K⁻²), n_temperatures (çözülen sıcaklık sayısı), r2. Belirsizlik: u(EA) = |um|·kB/q.
Örnek dosya: examples/analysis/27_lcr_tas_arrhenius.csv — c-Si tek tuzak, 9 sıcaklık 55–95 K, 1 Hz–100 MHz tarama. Beklenen: EA ≈ 0.15 eV (±10 meV), ν₀ ≈ 1×10¹² s⁻¹K⁻², n_temperatures = 9, r² > 0.95.

A8 — Taşıyıcı Ömrü (IS) · lcr_lifetime
Bu modül, empedans fitindeki direnç ve kapasitanstan bir taşıyıcının rekombine olmadan önce ortalama ne kadar süre "yaşadığını" hesaplar. Bir odadaki insanların ortalama ne kadar kaldığını giriş–çıkış hızından bulmak gibi, uzun ömür genelde daha verimli cihaz demektir.
- Neden yapılır: Cihaz verimliliğini sınırlayan rekombinasyon kayıplarını ölçmek için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Rekombinasyon taşıyıcı yaşam süresi τn = Rrec·Cμ.
- Nerede kullanılır: Güneş hücresi verim tanılaması ve malzeme kalite karşılaştırması.
Amaç: Bisquert empedans spektroskopisi (IS) yorumuyla rekombinasyon taşıyıcı yaşam süresi τn = Rrec·Cμ çıkarır.
Fizik ve yöntem. A3 ile aynı devre fitini salt-okunur yeniden kullanır (tek kaynak ilkesi):
Belirsizlik A3 ile aynı GUM yayılımıyla hesaplanır. Tek-koşul (tek bias/aydınlatma) veride rekombinasyon mertebesi çıkarılmaz (recombination_order = None; mertebe için enjeksiyon/bias serisi gerekir) ve τn(Voc) = τn alınır.
Girdi sütunları: z_re_ohm, z_im_ohm, freq_hz.
Parametreler: circuit (varsayılan auto; A3 ile aynı seçenekler).
Çıktılar: tau_n_s (s), tau_n_at_voc_s (s), r_rec_ohm (Ω), c_mu_f (F), recombination_order (tek koşulda None).
Örnek dosya: examples/analysis/28_lcr_lifetime.csv — c-Si, Rrec = 5 kΩ, Cμ = 2 nF (A3 ile aynı Z–f verisi). Beklenen: τn ≈ 10 µs (±%5), Rrec ≈ 5 kΩ, Cμ ≈ 2 nF (±%10), recombination_order = None.

RPS / RUS Ailesi (29–35)
Bu aile, bir numuneyi titreştirip (rezonansa sokup) doğal "çınlama" frekanslarını dinler. Bir bardağa vurduğunuzda çıkan sesin tona, boyuta ve malzemeye bağlı olması gibi, numunenin rezonansları onun sertliğini (elastik modül), piezoelektrik yanıtını ve iç sürtünmesini ele verir.
- Neden yapılır: Malzemenin mekanik/elastik ve piezoelektrik özelliklerini tahribatsız ölçmek için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Rezonans frekansı, kalite faktörü Q, akustik sönüm, göreli d₃₃, elastik modül ve tam elastik tensör Cij.
- Nerede kullanılır: Piezoelektrik/seramik malzeme karakterizasyonu, faz geçişi çalışmaları ve elastik sabit tayini.
RPS/RUS ailesi, bir lock-in ölçüm dosyasını (harmonik, frekans, X/Y faz, R = |V| genlik, ayar sıcaklığı) okuyarak rezonans ve elastik parametreleri çıkarır. Veriler (harmonic, t_set_k) çiftine göre gruplanır; her grup en az 5 noktaya sahip olmalıdır.
Temel Lorentzian model (genlik):
Fiziksel yorumlar (Migliori & Sarrao, Resonant Ultrasound Spectroscopy, Wiley 1997; Carpenter vd., EPJB 2003; Salje & Carpenter, J. Phys.: Condens. Matter 2011):
- f0² ∝ ceff/ρ — rezonans frekansının karesi etkin elastik modül ile orantılı.
- alan ∝ d₃₃ — 1f tepe alanı lineer piezoelektrik yanıt gücüyle orantılı (göreli).
- FWHM = linewidth ∝ 1/Q — anelastik kayıp / domain-duvarı hareketi ölçüsü.
asymmetry_suspect notu eklenir; bu durumda f0 ve alan sapma gösterebilir. Tarafsız f0/Q için kompleks (X/Y) iki-kutuplu fit (modül 34) tercih edilir.peak_near_edge / area_truncation_suspect notu eklenir.29 — RPS Lorentzian Fit · rps_lorentzian_fit
Bu modül, bir rezonans tepesine standart bir çan eğrisi (Lorentzian) oturtarak tepenin tam yerini, keskinliğini ve büyüklüğünü çıkarır. Bir gitar telinin tam hangi notada ve ne kadar "temiz" çınladığını ölçmek gibi, tepe ne kadar dar ise malzeme o kadar az enerji kaybeder.
- Neden yapılır: Bir rezonansın temel niceliklerini güvenilir ve tekrarlanabilir biçimde elde etmek için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Rezonans frekansı f0, kalite faktörü Q, tepe alanı ve çizgi-genişliği (FWHM).
- Nerede kullanılır: Tüm RPS analizlerinin temel yapı taşı; tekil rezonans karakterizasyonu.
Amaç: Her (harmonik, sıcaklık) grubunda tek baskın rezonansa Lorentzian fit; f0, Q, alan ve çizgi-genişliği çıkarır.
Girdi sütunları: harmonic, freq_hz, r_v, t_set_k (+ isteğe bağlı x_v, y_v).
Parametreler: harmonic (varsayılan 1; yalnız seçilen harmoniğin grupları fit edilir).
Çıktılar (ilk başarılı grubun değerleri):
| Anahtar | Birim | Açıklama |
|---|---|---|
f0_hz | Hz | Rezonans frekansı |
q | — | Kalite faktörü Q = f0/FWHM |
area_v_hz | V·Hz | Tepe alanı = π·Rpeak·HWHM |
linewidth_hz | Hz | FWHM = f0/Q |
chi2, r2 | — | Uyum metrikleri |
n_groups_fit | — | Fit edilen grup sayısı |
Belirsizlikler GUM ile yayılır: u(Q) cov(f0,HWHM) terimi dahil; u(alan) cov(Rpeak,HWHM) terimi dahil; u(FWHM) = 2·u(HWHM).
Örnek dosya: examples/analysis/29_rps_lorentzian_fit.csv — f0 = 800 kHz, Q = 200, Rpeak = 1×10⁻⁴ V, tek pik @ 300 K. Beklenen: f0 ≈ 800 kHz (±%0.2), Q ≈ 200 (±%5), FWHM ≈ 4000 Hz (±%5), alan ≈ π·10⁻⁴·2000 = 0.6283 V·Hz (±%10), r² > 0.95.

30 — RPS Akustik Sönüm · rps_attenuation
Bu modül, rezonans tepesinin sıcaklıkla ne kadar genişlediğine bakarak malzemenin iç sürtünmesini (akustik kayıp) izler. Çınlayan bir çanın sesinin ne kadar çabuk söndüğü gibi, geniş tepe = hızlı sönüm = yüksek kayıp anlamına gelir; faz geçişlerinde belirgin tepe verir.
- Neden yapılır: Sıcaklığa bağlı kayıp mekanizmalarını (domain-duvarı hareketi vb.) saptamak için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Çizgi-genişliğinin (FWHM) sıcaklıkla değişimi, yani anelastik kayıp Q⁻¹.
- Nerede kullanılır: Faz geçişi araştırması ve sönüm/iç-sürtünme çalışmaları.
Amaç: Sıcaklıkla çizgi-genişliği (FWHM) değişiminden akustik sönümü (anelastik kayıp Q⁻¹) izler.
Fizik: Q⁻¹ ∝ FWHM = f0/Q. Domain-duvarı hareketi, nokta-hata gevşemesi vb. mekanizmalar çizgi-genişliğini sıcaklık bağımlı kılar; faz geçişinde tepe verir. Modül önce 29'u (seçilen harmonikte) çalıştırır, grup sonuçlarından FWHM(T) serisini çıkarır.
Girdi sütunları: harmonic, freq_hz, r_v, t_set_k.
Parametreler: harmonic (varsayılan 1).
Çıktılar: linewidth_hz_at_min_t (Hz), linewidth_hz_at_max_t (Hz), n_temperatures. Her sıcaklıkta FWHM hata-çubuklu seri olarak da döndürülür.
Örnek dosya: examples/analysis/30_rps_attenuation.csv — iki 1f grubu: 300 K (f0 = 800 kHz, Q = 200 → FWHM = 4000 Hz) ve 400 K (f0 = 790 kHz, Q = 180 → FWHM ≈ 4388.9 Hz). Beklenen: düşük-T FWHM ≈ 4000 Hz, yüksek-T FWHM ≈ 4389 Hz (her ikisi ±%5), n_temperatures = 2; sıcaklıkla artan kayıp (FWHMmaks > FWHMmin).

31 — RPS Göreli d₃₃ · rps_d33_rel
Piezoelektrik bir malzeme gerilim altında titreşim üretir; bu yanıtın gücü d₃₃ ile ölçülür. Modül, temel (1f) rezonans tepesinin alanını bir referans sıcaklığa göre normalize ederek d₃₃'ün sıcaklıkla nasıl değiştiğini izler. Bir hoparlörün sıcaklık değiştikçe ne kadar "yüksek" çaldığını referansla karşılaştırmak gibi.
- Neden yapılır: Piezoelektrik gücün faz geçişi yakınında zayıflayıp zayıflamadığını görmek için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Göreli (normalize) piezoelektrik yanıt d33_rel(T); mutlak değer değil, eğilim.
- Nerede kullanılır: Ferroelektrik/piezoelektrik malzemelerde Tc yakını davranış çalışmaları.
Amaç: 1f tepe alanının sıcaklıkla değişiminden göreli piezoelektrik yanıt d₃₃'ü izler.
Fizik: alan1f(T) ∝ etkin d₃₃; d33_rel(T) = alan1f(T) / alan1f(Tref). Yalnız 1f grupları kullanılır. Tref'te değer tanım gereği 1.000'dir (belirsizliği tam 0).
Girdi sütunları: harmonic, freq_hz, r_v, t_set_k. (En az 2 farklı sıcaklıkta 1f fit gerekir.)
Parametreler: t_ref_k (referans sıcaklık; varsayılan en düşük T).
Çıktılar: d33_rel_at_min_t, d33_rel_at_max_t, n_temperatures. Belirsizlik (GUM, bağımsız fitler, cov = 0): u²(dr) = (1/alanref)²·u²(alanT) + (alanT/alanref²)²·u²(alanref).
Örnek dosya: examples/analysis/31_rps_d33_rel.csv — Tref = 300 K. 300 K alan = π·10⁻⁴·2000 = 0.6283; 400 K alan = π·0.9×10⁻⁴·2194.4 = 0.6203. Beklenen: d33_rel(300 K) = 1.000, d33_rel(400 K) ≈ 0.6203/0.6283 = 0.9873 (±%5), n_temperatures = 2.

32 — RPS Doğrusalsızlık Oranı · rps_nonlinearity_ratio
Bu modül, ikinci harmonik (Xf) tepesini temel (1f) tepeyle kıyaslar; oran malzeme yanıtının ne kadar "doğrusal-olmayan" olduğunu söyler. Bir hoparlöre saf bir nota verip çıkışta istenmeyen ek tonların ne kadar olduğuna bakmak gibi, lineer piezoelektrik ile elektrostriktif katkıyı ayırır.
- Neden yapılır: Simetri kırılmasıyla ortaya çıkan lineer yanıtı, her fazda var olan doğrusal-olmayan yanıttan ayırmak için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Xf/1f tepe-alanı oranı (doğrusalsızlık ölçüsü) ve sıcaklıkla değişimi.
- Nerede kullanılır: Ferroelektrik faz geçişi ve simetri tanılaması.
Amaç: Çift (Xf) harmonik tepe alanının 1f'e oranından piezoelektrik (1f) ve elektrostriktif (Xf) yanıtı ayrıştırır.
Fizik: nonlinearity_ratio(T) = alanXf(T) / alan1f(T). 1f lineer piezoelektrik (kırılan inversiyon simetrisi gerektirir), Xf doğrusal-olmayan / elektrostriktif (santrosimetrik fazda da serbest) yanıtı temsil eder (Carpenter vd., EPJB 2003, Denk. 4–5).
Girdi sütunları: harmonic (1 ve Xf), freq_hz, r_v, t_set_k.
Parametreler: harmonic_x (Xf harmonik çarpanı; varsayılan 2). Modül 1f ve Xf için ayrı ayrı Lorentzian fit çalıştırıp ortak sıcaklıkları eşleştirir.
Çıktılar: ratio_at_min_t, ratio_at_max_t, n_temperatures. Belirsizlik (GUM, bağımsız fitler).
Örnek dosya: examples/analysis/32_rps_nonlinearity_ratio.csv — 300 K: 1f (R = 1×10⁻⁴, Q = 200) alan = 0.6283; 2f (R = 0.3×10⁻⁴, f0 = 800.2 kHz, Q = 150) alan = π·0.3×10⁻⁴·2667.3 = 0.2513. Beklenen: oran(300 K) ≈ 0.2513/0.6283 = 0.400 (±%15), n_temperatures = 2; 2f < 1f (oran < 1, hafif doğrusalsızlık).

33 — RPS Göreli Elastik Modül · rps_elastic_modulus
Rezonans frekansının karesi malzemenin sertliğiyle (elastik modül) orantılıdır. Bu modül, f0²'nin sıcaklıkla değişiminden göreli sertliği izler ve faz geçişlerindeki "yumuşamayı" ortaya çıkarır. Isındıkça gevşeyen bir gitar telinin tonunun düşmesi gibi, ton düşüşü malzemenin yumuşadığını gösterir.
- Neden yapılır: Sıcaklığa bağlı elastik yumuşama/sertleşmeyi ve faz geçişlerini saptamak için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Göreli elastik modül (f0(T)/f0(Tref))² ve sıcaklık eğilimi.
- Nerede kullanılır: Faz geçişi/kritik davranış araştırması ve malzeme termomekanik karakterizasyonu.
Amaç: f0²(T)/f0²(Tref) oranından göreli elastik modülü izler; faz geçişinde yumuşamayı (softening) ortaya çıkarır.
Fizik: f0² ∝ ceff/ρ olduğundan modulus_rel(T) = (f0(T)/f0(Tref))². Tref'te 1.000.
Girdi sütunları: harmonic, freq_hz, r_v, t_set_k. (En az 2 sıcaklık.)
Parametreler: t_ref_k (varsayılan en düşük T), harmonic (varsayılan 1).
Çıktılar: modulus_rel_at_min_t, modulus_rel_at_max_t, n_temperatures, r2_modulus_trend (modulus–T doğrusal eğilim uyumu). Belirsizlik (GUM): u²(mr) = (2f0T/f0ref²)²·u²(f0T) + (2f0T²/f0ref³)²·u²(f0ref).
Örnek dosya: examples/analysis/33_rps_elastic_modulus.csv — iki 1f grubu; f0(400 K)/f0(300 K) = 790/800. Beklenen: modulus_rel(300 K) = 1.000, modulus_rel(400 K) = (790/800)² = 0.97516 (±%1), n_temperatures = 2; yüksek-T'de yumuşama (modulusmaks-T < modulusmin-T).

34 — RPS Çok-Mod Fit (RUS) · rps_multimode_fit
Tek bir numune birçok farklı frekansta aynı anda çınlar. Bu modül, taramadaki tüm rezonans tepelerini otomatik bulur ve her birine gelişmiş (kompleks X/Y) bir fit uygular. Bir akoru çalıp içindeki tüm notaları tek tek ayıklamak gibi, sonraki elastik-tensör çözümü için gereken mod listesini hazırlar.
- Neden yapılır: Elastik tensör inversiyonu için doğru ve tarafsız bir rezonans (mod) kümesi oluşturmak için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Mod sayısı, her modun f0/Q/genlik değerleri ve ortalama Q.
- Nerede kullanılır: RUS ölçümlerinin mod-tespit aşaması; tensör çözümünün ön adımı.
Amaç: Taramadaki tüm rezonansları tespit edip her birine kompleks (X/Y) iki-kutuplu fit uygular (RUS "Auto-Mark"). Mod başına tarafsız f0, Q, genlik, çizgi-genişliği verir; sonraki tensör inversiyonu için ölçülmüş mod kümesini hazırlar.
Fizik ve yöntem. Tek mod için sürülen sönümlü harmonik osilatör (normalize kompleks Lorentzian) + kompleks arka plan (feedthrough):
X ve Y'nin birlikte fit edilmesi feedthrough kaynaklı Fano asimetrisini giderir. Pikler scipy.signal.find_peaks (belirginlik = R aralığının oranı) ile tespit edilir; her pik kendi adaptif penceresinde fit edilir; kalite kapıları (r2 ≥ r2_min, q_min ≤ Q ≤ q_max, sonlu u(f0) ≤ %5·f0) ve mod tekilleştirme uygulanır.
Girdi sütunları: harmonic, freq_hz, x_v, y_v, r_v, t_set_k (grup başına ≥ 8 nokta).
Parametreler:
| Parametre | Açıklama | Varsayılan |
|---|---|---|
harmonic | Tek harmoniğe sınırla (None → tümü) | 1 |
min_prominence_frac | Min. pik belirginliği (R aralığı oranı) | 0.05 |
r2_min | Mod kabulü için min. kompleks-fit r² | 0.90 |
Çıktılar (ilk grubun özeti): n_modes, f0_first_hz (Hz, en düşük frekanslı mod), q_first, mean_q. Tüm mod tabloları mode_groups skaleri olarak tensör inversiyonu için saklanır.
Örnek dosya: examples/analysis/34_rps_multimode_rus.csv — kübik RPR 2.5 × 5 × 9 mm, ρ = 6000 kg/m³, C11 = 200, C12 = 110, C44 = 70 GPa, Visscher ileri spektrumu (mertebe 10), 10 rezonans, Q = 3000. Beklenen: n_modes ∈ [8, 14] (≥ 8 çözülmüş), en düşük mod f0 ≈ 119.4 kHz (±%0.2), Qilk ∈ [2000, 4000].

35 — RUS Elastik-Tensör İnversiyonu · rps_elastic_tensor
Bu modül, ölçülen rezonans modlarından ve numunenin boyut/yoğunluğundan geriye doğru çalışıp malzemenin tüm bağımsız elastik sabitlerini (Cij) çözer. Bir çanın çıkardığı tüm tonlardan çanın hangi metalden ve ne sertlikte yapıldığını geri hesaplamak gibi, tek ölçümden eksiksiz bir elastik kimlik çıkarır.
- Neden yapılır: Tek bir küçük numuneden tam elastik tensörü ve ortalama modülleri elde etmek için.
- Ne öğretir / ne ölçer: Bağımsız Cij sabitleri, VRH agregat modülleri (K, G, E, ν) ve Zener anizotropisi.
- Nerede kullanılır: Malzeme biliminde elastik sabit tayini, kristal anizotropisi ve kalite doğrulaması.
Amaç: Bilinen geometrili numunenin ölçülmüş çok-mod rezonans spektrumundan, seçilen kristal simetrisinin bağımsız elastik sabitlerini (Cij) ters-çözer; ek olarak Voigt–Reuss–Hill agregat modülleri (K, G, E, ν) ve Zener anizotropisini raporlar. Bu, RUS'un amiral çıktı yeteneğidir.
Fizik ve yöntem. İleri problem, serbest-serbest dikdörtgen paralelyüz (RPR) için Rayleigh–Ritz / Visscher özdeğer problemidir (Γa = ω²Ea; W. M. Visscher vd., JASA 90, 2154, 1991). Ters problem, ölçülmüş frekanslara göreli frekans kalıntısı üzerinde doğrusal-olmayan en küçük kareler uygular:
Bağımsız sabit sayıları simetriye bağlıdır:
| Simetri | Bağımsız sabitler | Sayı |
|---|---|---|
| İzotropik | c11, c12 | 2 |
| Kübik | c11, c12, c44 | 3 |
| Hekzagonal | c11, c12, c13, c33, c44 | 5 |
| Tetragonal | c11, c12, c13, c33, c44, c66 | 6 |
| Ortorombik | c11, c22, c33, c12, c13, c23, c44, c55, c66 | 9 |
Agregat modüller Voigt–Reuss–Hill ortalamasıyla (Hill 1952) ve Zener anizotropisi A = 2·C44/(C11 − C12) ile hesaplanır (yalnız kübik/izotropik için anlamlı). Born elastik kararlılığı (Voigt matrisinin pozitif-tanımlılığı) denetlenir.
Girdi sütunları: harmonic, freq_hz, x_v, y_v, r_v, t_set_k (önce 34 ile çok-mod çıkarımı yapılır; ≥ bağımsız-sabit-sayısı kadar mod gerekir).
Parametreler:
| Parametre | Birim | Açıklama | Varsayılan |
|---|---|---|---|
symmetry | — | Kristal simetrisi (isotropic/cubic/hexagonal/tetragonal/orthorhombic) | cubic |
lx_mm, ly_mm, lz_mm | mm | Numune kenar uzunlukları | 4 / 5 / 6 |
density_kg_m3 | kg/m³ | Numune yoğunluğu | 6000 |
harmonic | — | Kullanılacak harmonik | 1 |
order | — | İleri-çözücü mertebesi | 12 |
c11_gpa…c66_gpa | GPa | Başlangıç elastik-sabit tahminleri | 150/75/75/150/45/45 |
n_modes_use | — | Kullanılacak en düşük mod sayısı (0 = tümü) | 0 |
piezoelectric_sample | — | 1 ise "sertleşmiş tensör" uyarısı ekler | 1 |
Çıktılar: c11_gpa, c12_gpa, c44_gpa (+ simetriye göre c13/c33/c66/c22/c23/c55), bulk_K_gpa, shear_G_gpa, young_E_gpa, poisson_nu, anisotropy_A, rms_rel_error, n_modes_fit. Belirsizlikler (uCij) yalnız rastgele frekans-fit dağılımını yansıtır; mod-atama, kesme (truncation) ve geometri/yoğunluk hatalarını içermez (alt-sınır).
Örnek dosya: examples/analysis/35_rps_elastic_tensor_rus.csv — kübik, 2.5 × 5 × 9 mm, ρ = 6000, 12 mod; gerçek C11 = 200, C12 = 110, C44 = 70 GPa; gerçek-dışı başlangıç 180/120/62 GPa. Beklenen: C11 ≈ 200 (±%5), C12 ≈ 110 (±%8), C44 ≈ 70 (±%5), Zener A = 2·70/(200−110) = 1.556 (±%10), rms_rel_error < %1. VRH agregat: K ≈ 140, G ≈ 58.6, E ≈ 154.4 GPa, ν ≈ 0.316.
piezoelectric_sample = 1 iken bu uyarı otomatik eklenir. Mutlak Cij için pasif/mekanik-sürülen numune kullanın.analysis_resolved = False döndürür ve değerleri "GEÇİCİ — kullanılmamalı" olarak işaretler; başlangıç tahminini, mod sayısını ve çözücü mertebesini gözden geçirin. assignment_suspect (mod-atama şüphesi) ve truncation_not_converged (mertebe yetersiz) notlarını dikkate alın.
Sorun Giderme ve İpuçları
| Belirti | Olası neden | Çözüm |
|---|---|---|
| Modül "yetersiz veri" döndürdü | Sütun adları beklenenden farklı / çok az nokta | CSV başlıklarını doğrulayın (örn. bias_v, cp_f, freq_hz, harmonic, r_v, t_set_k); minimum nokta sayılarını sağlayın |
Empedans/RPS fiti başarısız (analysis_resolved = False) | SciPy kurulu değil ya da yakınsamadı | SciPy'ı kurun; başlangıç tahminlerini / devre seçimini gözden geçirin |
| f0 veya EA beklenenden uzak | Ölçüm sıcaklığı yanlış girildi (tDOS/CF/TAS) | Tuzak emisyonunu cihaz bandına taşıyan sıcaklıkta ölçün; temperature_k'yi ölçüm değeriyle eşleştirin |
| Tuzak adımı görünmüyor | Tarama bandı emisyon frekansını kapsamıyor | f₀ etrafında en az ±2 dekad log-tarama yapın |
| RPS alanı/d₃₃ sapmalı | Tepe tarama kenarına yakın (peak_near_edge) | Taramayı f0 ± 5·HWHM'yi içerecek kadar genişletin |
| Elastik tensör "güvenilmez" ✕ | Yetersiz mod / kötü başlangıç / düşük mertebe | Daha geniş frekans taraması, düşük belirginlik eşiği, daha yüksek order ve gerçeğe yakın başlangıç Cij deneyin |
r2/rms_rel_error ve ilgili uyarı notlarını kontrol edin; bunlar çıktı güvenilirliğinin birincil göstergeleridir.