Numuneden rapora: dahili elektronik laboratuvar defteri
Mikrofab Suite, ölçüm yazılımının içine gömülü numune-merkezli bir elektronik laboratuvar defteri (ELN) taşır. Bir malzeme ya da aygıt ürettiğinizde; künyesini, üretim ve süreç adımlarını kart kart kaydeder, ölçümlerinizi numuneye bağlar ve tek tıkla izlenebilir bir rapora dönüştürürsünüz. Üretim geçmişi ile elektriksel sonuçlar artık ayrı dosyalarda dağılmaz; tek bir numune kaydında birleşir.
Lab Defteri verisi kullanıcı-veri klasöründeki ayrı bir SQLite veritabanında (journal.db) tutulur ve ölçüm veritabanıyla numune kimliği köprüsü üzerinden konuşur: bir numunenin kullanıcı-görür kimliği (sample_id), o numuneden alınan ölçümlerin tft_id alanına karşılık gelir. Böylece bir wafer'ın üretim adımları ile o wafer üzerinde alınmış onlarca ölçüm tek bağlamda buluşur.
Numune künyesinden denetim izine
Lab Defteri, bir Ar-Ge / üretim defterinin günlük ihtiyaçlarını tek yerde toplar: numuneyi tanımlayın, sürecini adım adım kaydedin, ölçümü bağlayın, raporlayın ve her değişikliği izlenebilir kılın.
Numune künyesi
Her numune için zengin künye: kimlik, başlık, durum, operatör, tesis, parti/lot, ana-wafer; altlık malzemesi/boyutu/yönelimi, aktif malzeme; ortam (sıcaklık, bağıl nem, temiz-oda sınıfı) ve etiketler. Numune kimliği benzersizdir (UNIQUE); aynı kimlikle ikinci numune oluşturulamaz.
Süreç-adımı kartları
Üretim ve karakterizasyon her biri bir kart: temizlik, ince-film, litografi, aşındırma, tavlama, sıcaklık profili, ölçüm, not — ayrıca amaç, BOM, ekipman, XRD, mikroskopi, spektroskopi, güvenlik, protokol ve sign-off gibi Ar-Ge genişletmeleri. Toplam 30 kart tipi, sürükle-bırak galeriden eklenir ve ordinal sırasıyla dizilir.
Ölçüm köprüsü
Bir measurement kartı, linked_measurement_id ile ölçüm veritabanındaki gerçek bir kaydı bağlar. Numunenin süreç geçmişi ile elektriksel sonuçları (Vth, µFE, Ion/Ioff, Jsc/Voc/FF…) tek yerde birleşir; ham eğriye numuneden ulaşırsınız.
Tek-tık HTML / PDF rapor
Her numune, tek tıkla açılan biçimli bir Türkçe HTML raporuna dönüşür: künye + süreç adımları + bağlı ölçüm metrikleri. Tarayıcıda açın, yazdırın ya da yazıcı diyalogundan PDF'e aktarıp e-postayla paylaşın — ek araç gerekmez.
İzlenebilirlik ve denetim izi
Her oluşturma, güncelleme, silme ve geri-yükleme denetim izine (audit_log) yazılır: kim (actor), neden (reason) ve değişiklik öncesi tam anlık görüntü (before_json). Silme yumuşaktır (deleted_at) — veri durur; göç öncesi otomatik yedek alınır.
JSON dışa aktarım
Veri felsefesi "özet veritabanı + ham dosya": numune ve adım kayıtları ile bütünlük-mühürlü rapor JSON'u dışa aktarılabilir, ham ölçüm dizileri ise CSV / TXT / XLSX / HDF5 / JSON olarak dosya sisteminde durur. Hiçbir veri tek bir biçme kilitlenmez.
Örnek defterlere yakından bakış
Mikrofab Suite, müşteriye gösterilmek üzere üretilmiş 10 dolu Lab Defteri numunesiyle gelir. Aşağıda altı örnek numunenin uygulama içindeki görünümü yer alıyor; her biri farklı bir kart ailesini ve çalışma alanını temsil eder.
Her biri farklı bir çalışma alanı — ve orijinal raporu
10 örnek numunenin tamamı ürünle birlikte gelir; her birinin tek-tık açılan orijinal Türkçe HTML raporu da pakete dahildir. Aşağıdaki kartlardan ilgili raporu doğrudan açabilirsiniz.
IGZO-TFT üretimi
Cam üstü a-IGZO ince-film transistör (alt-kapı, üst-kontak). Temizlikten transfer ölçümüne tüm üretim akışı; Vth, µFE, SS ve Ion/Ioff sonuçları numuneye bağlı.
Orijinal raporu açMemristör DOE planlama
HfOx memristör malzeme taraması için proje planlama defteri: amaç, malzeme listesi (BOM), ekipman, zaman çizelgesi ve deney tasarımı (DOE) kartları.
Orijinal raporu açFotodetektör analizi
a-Si:H fotodetektörün zamansal yanıt (yükselme/düşme süresi) ve spektral duyarlılık analizi; foto/karanlık akım oranı ve bant genişliği numune kaydında.
Orijinal raporu açTFT ölçüm kampanyası
5'li ortak-kapı OFET dizisinde transfer/çıkış ölçüm kampanyası: çoklu aygıt, tekrarlı ölçüm ve aygıttan aygıta istatistiksel karşılaştırma.
Orijinal raporu açPerovskit güneş hücresi
n-i-p perovskit güneş hücresi (PSC): aydınlık J–V, histerezis ve kararlılık defteri. Jsc, Voc, FF ve PCE sonuçları süreç adımlarına bağlı.
Orijinal raporu açRRAM dayanıklılığı
TiN/HfOx/Ti/Pt memristörde direnç-anahtarlama (SET/RESET) ve dayanıklılık (endurance) döngüleri; HRS/LRS pencere takibi numune defterinde.
Orijinal raporu açPZT piezoelektrik
PZT-5H disk üzerinde rezonant piezoelektrik spektroskopi (RPS/RUS): rezonans modları, elastik modül ve d33 türevli büyüklükler tek defterde.
Orijinal raporu açMOS-kapasitör C–V
Al2O3 MOS-kapasitör için C–V profilleme ve Mott-Schottky: etkin doping, yapısal gerilim Vbi ve arayüz tuzak yoğunluğu Dit.
Orijinal raporu açKalibrasyon (ISO 17025)
SMU kalibrasyonu ve laboratuvar uyumluluk defteri: ISO/IEC 17025 izlenebilirliği, referans standartlar, kontrol kartları ve sign-off adımları.
Orijinal raporu açZnO ince-film karakterizasyonu
Sol-gel ZnO ince filmin yapısal ve morfolojik karakterizasyonu: XRD, SEM ve Raman adımları tek numune defterinde belgelenir.
Orijinal raporu açTek tıkla paylaşılabilir, biçimli rapor
Her numune, künyesini, süreç adımlarını ve bağlı ölçüm metriklerini bir araya getiren biçimli bir HTML raporuna dönüşür. Aşağıda beş örnek numunenin gerçek rapor çıktısı görülüyor; hepsi tarayıcıda açılır, yazdırılır ya da PDF'e aktarılır.
Akredite laboratuvar için sağlam bir temel
Lab Defteri, ölçüm ve analiz veritabanlarıyla aynı veri standardını paylaşır: tek-kapı veri erişimi, ekle-sadece + yumuşak-silme, tam denetim izi ve göç-öncesi otomatik yedek. Bu desen, izlenebilirlik gerektiren laboratuvar düzenlerinin omurgasını hazır verir.
actor) ve neden (reason) bilgisiyle, değişiklik öncesi tam anlık görüntüyü (before_json) saklayarak denetim izine (audit_log) yazılır. Yumuşak-silme (deleted_at) ile veri korunur, kalıcı silme öncesi otomatik yedek alınır — kayıt bütünlüğü ve izlenebilirlik akreditasyon süreçlerinin beklentilerini karşılar.Ar-Ge ve üretim
- Wafer/parti yaşam döngüsünü künye + süreç-adımı kartlarıyla eksiksiz belgeleyin.
- Üretim geçmişini elektriksel sonuçlara ölçüm köprüsüyle bağlayın.
- Numuneyi tek tıkla biçimli rapora dönüştürüp paydaşlarla paylaşın.
- Denetim izi ve yedeklerle ISO 17025 / GLP düzenini destekleyin.
Eğitim ve araştırma
- Öğrenci ölçümlerini ve numune hazırlama adımlarını kayıt altına alın.
- 10 hazır örnek defterle ELN kullanımını sınıfta gösterin.
- Tez ve makale için izlenebilir, dışa aktarılabilir kayıt tutun.
- XRD, mikroskopi ve spektroskopi adımlarını tek numunede toplayın.
Lab Defteri'ni kılavuzda inceleyin
Veri mimarisi, numune ve adım tabloları, ölçüm köprüsü, denetim izi ve örnek defterlerin nasıl yeniden üretildiği kılavuzun veri bölümünde adım adım anlatılır.
Veri, Veritabanı, Lab Defteri, Reçete ve Betik
Numune-merkezli ELN'in iki tablosu (samples + sample_steps), birleşik numune kimliği, kart galerisi ve adım tipleri, ölçüm köprüsü ile yedekleme/bütünlük bölümünün tamamı.
Raporlama ve Dışa Aktarım
Tek-tık HTML/PDF raporlarının yapısı, bütünlük-mühürlü rapor JSON'u ve CSV / TXT / XLSX / HDF5 dışa aktarım biçimlerinin tamamı.
Raporlama bölümünü açLab Defteri'ni kendi numunelerinizle deneyin
10 hazır örnek defteri inceleyin, kendi numunelerinizi kart kart kaydedin ve tek tıkla izlenebilir bir rapora dönüştürün. Donanımınız olsun ya da olmasın — simülasyon modunda baştan sona deneyebilirsiniz.