| Numune Kimliği (ID) | CHAR-ZnO-2026-013 |
| Başlık | Sol-gel ZnO ince film — yapısal/morfolojik karakterizasyon (XRD/SEM/Raman) |
| Durum | Tamamlandı |
| Operatör | B. Çelik |
| Laboratuvar / Tesis | Malzeme Karakterizasyon Merkezi |
| Altlık Malzemesi | Si (100) + cam |
| Aktif Tabaka Malzemesi | ZnO (çinko oksit) ince film |
| Etiketler | karakterizasyon, XRD, SEM, AFM, Raman, ZnO, kristalit |
| Notlar | Sol-gel spin-coat + 500 °C tavlama ile c-ekseni yönelimli ZnO; çok teknikli analiz. |
| Teknik | Sol-gel |
| Malzeme / Hedef / Öncül | Çinko asetat dihidrat + 2-metoksietanol + MEA |
| Ekipman | Laurell spin-coater + 500 °C kül fırını |
| Altlık Sıcaklığı (°C) | 25 |
| Süre (dk) | 0.5 |
| Hız (nm/dk veya Å/s) | 3000 rpm 30 s × 5 kat |
| Hedef Kalınlık (nm) | 250 |
| Ölçülen Kalınlık (nm) | 240 |
| Son İşlem | Her kat 300 °C ön-pişirme; son 500 °C / 1 sa havada kristalizasyon |
| Cihaz | Rigaku SmartLab |
| Radyasyon | Cu Kα |
| 2θ Aralığı (°) | 20–70 |
| Adım Boyutu (°) | 0.02 |
| Tarama Hızı | 2°/dk |
| Faz Tanımı (ICDD/PDF) | Würtzit ZnO (ICDD 00-036-1451) |
| Pikler (2θ / hkl / şiddet) | (002) 34.4° baskın → c-ekseni yönelimi; (100) 31.8°, (101) 36.3° zayıf. |
| Kristalit Boyutu (nm, Scherrer) | 28 |
| Teknik | SEM |
| Cihaz | Zeiss Sigma 300 (SEM) + Bruker Dimension (AFM) |
| Büyütme | 50,000× |
| Voltaj (kV) | 5 |
| Tarama Boyutu | 2 × 2 µm (AFM) |
| RMS Pürüzlülük (nm) | 4.2 |
| Ölçek Çubuğu | 200 nm |
| Altyazı | Yoğun, çatlaksız taneli yüzey; ortalama tane ≈ 30–40 nm; AFM RMS ≈ 4.2 nm. |
| Teknik | Raman |
| Cihaz | Renishaw inVia (532 nm) |
| Aralık | 100–800 cm⁻¹ |
| Çözünürlük | 1 cm⁻¹ |
| Pikler / Bantlar | E₂(yüksek) 437 cm⁻¹ baskın; A₁(LO) 580 cm⁻¹ zayıf. |
| Atama / Yorum | Keskin E₂(yüksek) → iyi kristal kalite; zayıf A₁(LO) → düşük oksijen boşluğu/serbest taşıyıcı. |
| Parametre | Değer | Belirsizlik (±) | Birim | Spesifikasyon | Geçti |
| Baskın yönelim | (002) c-ekseni | — | (002) | ✓ | |
| Kristalit boyutu (Scherrer) | 28 | 3 | nm | ≥20 | ✓ |
| RMS pürüzlülük (AFM) | 4.2 | 0.4 | nm | ≤6 | ✓ |
| Optik bant aralığı (Tauc) | 3.28 | 0.02 | eV | 3.2–3.3 | ✓ |
| N (örnek sayısı) | 120 |
| Ortalama | 34 nm |
| Std. Sapma | 8 nm |
| CV (%) | %23.5 |
| Min | 18 nm |
| Max | 56 nm |
| Yöntem / Yazılım | ImageJ tane analizi (SEM 50k×, 120 tane) |