Bir yazılım, iki dünya
Mikrofab Suite, üretim hattındaki kalite mühendisiyle araştırma grubundaki doktora öğrencisini aynı arayüzde buluşturur. Aynı ölçüm çekirdeği, aynı izlenebilir rapor, aynı simülasyon modu — yalnızca veri kaynağı ve hedef değişir.
Ar-Ge, üretim ve kalite kontrol
- Ar-Ge ekipleri: yeni malzeme ve cihaz mimarilerini hızla karakterize edin; 37 ölçüm modunu ve 37 analiz modülünü tek pakette kullanın.
- Üretim ve fab: wafer üzerindeki çok sayıda aygıtı röle/anahtar matrisiyle tek başlatmayla tarayın.
- Kalite kontrol: tekdüzelik (uniformity) haritaları ve izlenebilir raporlarla parti-parti tutarlılığı belgeleyin.
- Wafer haritalama: ızgara üzerindeki parametre dağılımını 2B ısı haritasıyla görün.
- Gece otomasyonu: reçete ve headless modla gözetimsiz, gece boyu süren test kampanyaları kurun.
Araştırma, öğretim ve laboratuvar
- Araştırma grupları: yarıiletken, fotovoltaik, LCR/empedans ve rezonant spektroskopiyi tek ortamda birleştirin.
- Üniversite laboratuvarları: farklı markalı mevcut cihaz parkınızı ortak bir arayüzde toplayın.
- Öğretim ve ders: simülasyon (mock) modu sayesinde her öğrenci kendi bilgisayarında donanımsız çalışsın.
- Çok-disiplinli projeler: Lab Defteri (ELN) ile numune yaşam döngüsünü süreç adımlarından elektriksel sonuçlara kadar tek yerde tutun.
Her gün karşılaştığınız işler
Soyut özellikler değil, somut senaryolar. Aşağıdaki altı iş akışı, profesyonel ve akademik kullanıcıların Mikrofab Suite ile en çok yaptığı işlerdir — her birinin sağladığı somut fayda ile birlikte.
Wafer ve cihaz haritalama
Bir ızgara (x, y) üzerinde her konumda aynı temel ölçümü otomatik koşturun; her parametre için 2B ısı haritası ve tekdüzelik = std/mean istatistiği çıksın. Merkez-kenar varyasyonunu, ölü bölgeleri ve süreç kaymasını tek bakışta görün.
Gece boyu toplu testler
Reçete ve headless modla düzinelerce ölçümü gözetimsiz çalıştırın; --repeat / --interval ile gece boyu tekrarlayın. Her nokta diske anında yazıldığı için güç kesilse bile veriniz durur, sabah sonuçlar hazırdır.
Bias stres ve dayanıklılık
Sabit kutuplama altında savak akımının ve eşik geriliminin sürüklenmesini (ΔV_th) izleyin; güç-yasası fitiyle MTTF ekstrapole edin. RRAM/memristör için SET/RESET döngülerinde HRS/LRS penceresini ve ilk-arıza döngüsünü ölçün.
Güneş hücresi kararlılığı
Işık ve ısıl yaşlanma altında PCE, FF ve Voc'nin zaman içinde nasıl değiştiğini kaydedin; kararlılık (degradation) eğrileriyle ömrü ve bozunma hızını niceleyin. J-V, MPPT ve Suns-Voc ile tam bir PV iş akışı.
Öğretim laboratuvarı (simülasyon)
Yerleşik simülasyon (mock) modu, fiziksel olarak tutarlı sentetik veri üretir. Öğrenciler donanım olmadan kendi bilgisayarında tüm ölçüm modlarını ve analiz akışını öğrenir; ders, demo ve doğrulama için idealdir.
Çok-üreticili cihaz parkı
Keithley, Keysight ve R&S SMU'larını aynı arayüzde sürün; röle/anahtar matrisiyle bir wafer üzerindeki çok sayıda aygıtı tek başlatmayla tarayın. Mevcut donanımınızı değiştirmeden, ortak bir iş akışına bağlayın.
İki amiral gemisi iş akışı
Profesyonel kullanıcıların en sık başvurduğu iki senaryoyu ekranıyla birlikte inceleyin.
Bir başlatma, sabaha hazır sonuçlar
Klasik reçete TFT kararlılığının standart akışını otomatikleştirir: stres öncesi transfer eğrisi, bir süre bias-stres, stres sonrası transfer — ve elinizde eşik kayması (ΔV_th). Headless modla bunu gece boyu, gözetimsiz tekrarlarsınız.
- Transfer-Before → Bias Stress → Transfer-After zinciri, seçili her TFT için sırayla tekrarlanır.
--repeat N --interval Sile tekrarlı koşu; örneğin sekiz saatlik stres (bias_duration_s = 28800).- Çökmeye-dayanıklı
*_partial.csv: güç kesilse bile o ana kadarki veri korunur. - Benzersiz, saat-damgalı çıktı klasörleri — OneDrive gibi senkron klasörlerde çakışma kopyası oluşmaz.
- Yerel REST API ile uzaktan başlat/izle/durdur;
Ctrl+Cher zaman güvenli-duruma alır.
Wafer üzerinde tekdüzeliği görün
Cihaz/Wafer Haritası modülü, bir ızgara üzerindeki her konumda seçtiğiniz temel ölçümü çalıştırır ve sonuçları mekânsal bir ısı haritasına döker. Üretimde tekdüzeliği belgelemek, Ar-Ge'de en iyi bölgeyi bulmak için biçilmiş kaftan.
- Otomatik veya kullanıcı-destekli kip: her konumda probu yerleştirip onaylayın ya da tümünü sıralı koşturun.
- Parametre başına
mean,std,min,maxve uniformity = std/mean. - Haritalanan her büyüklük (V_th, n, I_0, R_s, Φ_B …) için ayrı 2B ısı haritası.
- Röle matrisiyle tek wafer üzerindeki çok sayıda aygıtı operatör müdahalesi olmadan tarayın.
Senaryolar ekranda
Güvenilirlik, fotovoltaik kararlılık, öğretim ve çok-üreticili entegrasyon senaryoları için gerçek arayüz görünümleri.
İş akışınıza uyan çözümü birlikte kuralım
İster üretim hattında tekdüzelik belgeleyin, ister laboratuvarda yeni bir malzemeyi karakterize edin — Mikrofab Suite'i kendi senaryonuzla deneyin. Deneme sürümü ve lisans modeli için bizimle iletişime geçin; size canlı bir demo planlayalım.