Mikrofab Suite — ölçüm & analiz platformu

Tek yazılımda yarıiletkenden güneş hücresine tüm karakterizasyon

Çok-üreticili SMU'lar ile transistör, diyot, fotodedektör ve fotovoltaik aygıtları ölçün; ham veriden savunulabilir metrikleri tek kabuk altında çıkarın. Donanım olmadan, simülasyon modunda hemen başlayın.

37 ölçüm modu 37 analiz modülü Çok-üreticili (Keithley · Keysight · R&S) Simülasyon modu
Mikrofab Suite ana sayfa kokpiti: hızlı başlat, son etkinlik, donanım durumu ve disipline göre başlat kutucukları
37
Ölçüm modu
37
Analiz modülü
8
Mühendislik hesabı
3
Cihaz üreticisi (Keithley · Keysight · R&S)
Neden Mikrofab Suite

Ölçüm, analiz ve raporlama için tek, bütünleşik çalışma alanı

Dağılmış betikler ve cihaz arayüzleri yerine; veriyi üreten, fiziksel metriğe çeviren ve izlenebilir biçimde raporlayan tutarlı bir kabuk. Ar-Ge ve üretim ekipleriyle akademik laboratuvarlar için tasarlandı.

🧭

Birleşik çalışma alanları

Ölçüm, Kontrol, Analiz, Hesaplama, Veri ve Raporlar ile Lab Defteri tek pencerede. Komut paleti (Ctrl+K) ve çok-dilli arama ile her modüle saniyeler içinde ulaşın.

🔬

Savunulabilir analiz

Qt'den bağımsız saf çekirdek; Vth, mobilite, SS, Ion/Ioff, PV metrikleri ve fotodedektör parametreleri standart yöntemlerle, tekrarlanabilir biçimde hesaplanır.

📄

İzlenebilir raporlama

Her sonuç arşivlenir, karşılaştırılır ve müşteri seviyesinde rapora dönüşür. Özet veritabanı metrikleri tutar; tam veri her zaman CSV/XLSX/JSON dosyalarında kalır.

📓

Lab Defteri (ELN)

Numune-merkezli elektronik laboratuvar defteri: ölçümleri, notları ve sonuçları numune kimliğiyle ilişkilendirir; deney geçmişini eksiksiz korur.

⚙️

Otomasyon: REST & headless

Arayüzsüz (headless) iş çalıştırma ve yerel REST API sunucusu ile ölçüm sıralarını betikleyin, hat sistemlerine bağlayın, uzaktan kontrol edin.

🧪

Simülasyon modu

Varsayılan açık simülasyon (mock) motoru, gerçek cihaz olmadan tutarlı veri üretir. Eğitim, deneme ve geliştirme için sınırsız; donanım her an devreye alınabilir.

Ölçüm: cihazdan doğrudan veri

Transfer ve çıkış (IV) eğrileri, diyot/Schottky, dört-nokta ve van der Pauw direnç, darbeli (pulsed) IV, bias-stress, donanım-tetiklemeli sweep ve PV J-V dahil 37 teknik. Hepsi canlı grafik ve okuma paneliyle.

  • Preset galerisi ve reçete tabanlı otomatik sıralama
  • Mühendislik (SI) sayı biçimi: giriş ve grafik eksenlerinde
  • Her zaman erişilebilir ACİL DURDURMA (E-STOP) ve güvenli kapatma sırası
Daha fazla
Mikrofab Suite transfer eğrisi ölçüm modülü: parametre paneli ve canlı Ids-Vgs grafiği

Analiz: ham dosyadan fiziksel metrik

Cihaz gerektirmez. Yüklediğiniz CSV/ölçüm dosyasından PV metrikleri, zaman-tepki, fotodedektör parametreleri ve TFT büyüklüklerini çıkarın. Saf çekirdek, sonuçları saydam ve tekrarlanabilir kılar.

  • PV metrikleri: Voc, Jsc, FF, verim ve eşdeğer devre çıkarımı
  • Yöntem grafikleriyle gösterilen, denetlenebilir hesap adımları
  • 37 analiz modülü; LCR/empedans, gürültü ve piezo-akustik dahil
Daha fazla
Mikrofab Suite PV metrikleri analiz modülü: J-V eğrisinden Voc, Jsc, FF ve verim çıkarımı

Lab Defteri: numune-merkezli kayıt

Elektronik laboratuvar defteri (ELN), ölçüm ve analizleri numune kimliğine bağlar. Deney geçmişi, notlar ve sonuçlar bir arada; raporlama ve karşılaştırma için tek doğruluk kaynağı.

  • Numune bazlı zaman çizelgesi ve eklenti yönetimi
  • Sonuçlardan doğrudan rapor üretimi
  • Veri ve Raporlar çalışma alanıyla bütünleşik arşiv
Daha fazla
Mikrofab Suite Lab Defteri (ELN): numune-merkezli kayıt, deney geçmişi ve sonuç bağlantıları
Kimler için

Profesyonel laboratuvardan akademik dersliğe

Arayüzün karmaşıklığı kullanıcı moduna göre ölçeklenir: operatör için sade rutin, uzman ve geliştirici için tam erişim ve betikleme.

Profesyoneller

Ar-Ge, proses ve üretim ekipleri

  • Hazır preset ve reçetelerle rutin, hatasız ölçüm
  • Tüm parametrelere erişim, gelişmiş sweep ve analiz
  • REST/headless ile hat ve otomasyon entegrasyonu
  • Müşteri seviyesinde, izlenebilir raporlar
Akademi

Akademisyenler ve öğrenciler

  • Simülasyon moduyla donanımsız, sınırsız uygulama
  • Yöntem grafikleriyle görünür, öğretici hesap adımları
  • Çok-dilli arayüz (Türkçe / İngilizce) ve kılavuz
  • Tez ve makale için tekrarlanabilir, saydam analiz
Yalnızca ölçüm değil, öğrenme aracı

Her metriğin arkasındaki yöntemi gösterir

Mikrofab Suite, sonucu vermekle kalmaz; nasıl elde edildiğini gösterir. Eşik gerilimi (Vth) için tanjant yöntemi, mobilite için gm, alt-eşik eğimi (SS) ve PV dolum faktörü gibi çıkarımlar, denetlenebilir yöntem grafikleriyle sunulur. Böylece arayüz, deney düzeneğinin yanında bir eğitim materyaline dönüşür.

Akademi'yi keşfet
Eşik gerilimi çıkarımı: transfer eğrisine çizilen tanjant yöntemiyle Vth belirleme
Tanjant yöntemiyle eşik gerilimi (Vth) çıkarımı — yöntem her adımda görünür.

Önce simülasyonla deneyin, sonra cihazınızı bağlayın

Deneme + lisans modeliyle başlayın: simülasyon modu sınırsız, analiz ve hesaplama lisanssız da çalışır. Donanım kilidini açmak ve ekibinize özel bir kurulum için demo planlayalım.

Demo iste Kılavuzu incele